Chroma絕緣耐壓測(cè)試儀，絕緣、耐壓測(cè)試實(shí)際是絕緣電阻測(cè)試與介質(zhì)耐壓測(cè)試兩個(gè)部分的統(tǒng)稱。
 

　　絕緣電阻測(cè)試：絕緣電阻測(cè)試顧名思義是測(cè)試產(chǎn)品的絕緣性能，通過(guò)外加電壓，確定產(chǎn)品的絕緣性能是否符合電路設(shè)計(jì)之要求。電子產(chǎn)品帶電部位與接地部分之間，或者與外殼之間都要采用絕緣結(jié)構(gòu)使其隔離，確保安全。絕緣電阻低，則意味著漏電流大，過(guò)大的漏電流導(dǎo)致的發(fā)熱等問(wèn)題將會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品的劣化，最終影響產(chǎn)品的使用性能和使用壽命。另外，過(guò)大的漏電流也會(huì)存在產(chǎn)品外殼帶電傷人、傷物(其他產(chǎn)品)等安全事件。
 

　　耐壓測(cè)試：耐壓測(cè)試是對(duì)產(chǎn)品施加一定的電壓，檢查原本絕緣(比如設(shè)計(jì)的絕緣材料或者絕緣間隙)的兩個(gè)部分是否會(huì)在施加高電壓的影響下，產(chǎn)生介質(zhì)擊穿現(xiàn)象。目的是用來(lái)檢定產(chǎn)品在額定工作電壓或者是因開(kāi)關(guān)機(jī)等情況所導(dǎo)致的浪涌電壓下是否能夠安全工作。因此，對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行耐壓測(cè)試，需要考慮施加測(cè)試電壓值、測(cè)試時(shí)間及測(cè)試電壓的穩(wěn)定性，避免因測(cè)試電壓不穩(wěn)定，電源波形質(zhì)量差等因素影響測(cè)試結(jié)果。另外，應(yīng)避免對(duì)被測(cè)試對(duì)象進(jìn)行多次耐壓測(cè)試，以免降低產(chǎn)品的安全性能。
 

　　Chroma絕緣耐壓測(cè)試儀是針對(duì)超高壓耐壓測(cè)試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備，可完成基本交/直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試，對(duì)于產(chǎn)線測(cè)試時(shí)的接觸檢查議題，除原有設(shè)計(jì)OSC開(kāi)短路偵測(cè)，儀器新增HVCC高壓接觸檢查，針對(duì)高絕緣能力之組件于高壓輸出時(shí)同步進(jìn)行接觸檢查，提升測(cè)試可靠度與效率。耐壓測(cè)試儀具有GFI(接地失效中斷)設(shè)計(jì)，當(dāng)異常接地電流(A2-A1)發(fā)生時(shí)能實(shí)時(shí)切斷輸出，可保護(hù)作業(yè)員操作安全。
 

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