01

  面向SiC和GaN功率半導(dǎo)體柵極應(yīng)力測試   

在SiC和GaN寬帶隙材料中，新故障機(jī)制的某些影響不會體現(xiàn)在傳統(tǒng)測試中，但會影響實際應(yīng)用。

DGS測試（動態(tài)柵極應(yīng)力）彌補(bǔ)了該認(rèn)證差距，其要求明顯超出之前的測試程序，并且更具應(yīng)用針對性。

DGS是一種使用快速電壓偏移來激勵吉端子故障機(jī)制的測試。該測試系統(tǒng)涵蓋了所有相關(guān)的測試規(guī)范。此外，其運行自動化，并提供詳細(xì)的報告供進(jìn)一步數(shù)據(jù)分析使用。

   系統(tǒng)特性  

02 

在DGS測試方面，可將行業(yè)擴(kuò)展要求轉(zhuǎn)換為自動化動態(tài)測試。為滿足快速變化的需求，我們十分注重系統(tǒng)的靈活性。

除激勵外，DGS測試系統(tǒng)還提供多個原位測量，以確定規(guī)定時間段內(nèi)的相關(guān)參數(shù)。這些原位測量有效地顯示了動態(tài)柵極應(yīng)力對柵氧化物的長期影響，并支持您為客戶提供精確的說明。