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Chroma 7505 半導(dǎo)體封裝光學(xué)量測系統(tǒng)同時配備電動調(diào)整移動平臺，可對樣品做自動調(diào)平及定位。垂直與水平軸向掃描范圍大，適合各種自動量測之應(yīng)用，待測物皆不需前處理即可進(jìn)行非破壞且快速的表面形貌量測與分析，并提供快速自動對焦演算法與大面積接圖功能以及腳本量測功能具備自動量測能力，此外系統(tǒng)亦提供量測數(shù)據(jù)資料的存檔功能，供后續(xù)操作人員處理分析使用。

Chroma 3813 觸碰面板多點半自動測試機是一款新型的觸控面板線性測試機。3813 可測試數(shù)位式電阻與數(shù)位式電容面板以及傳統(tǒng)式電阻與傳統(tǒng)式電容面板，測試機采用平行測試技術(shù)，應(yīng)用于觸控面板觸控測試，感應(yīng)棒可X-Y及Z軸之下壓接觸移動，可依客戶設(shè)定好的軌跡測試，或由CAD直接轉(zhuǎn)檔，并可設(shè)定多項測試，且可同時上料6個待測物。

Chroma 3260C 三溫系統(tǒng)板測試分類機是一臺全新搭載Chroma混合制冷機（Hybr id Chi l ler）的系統(tǒng)板三溫測試分類機（SLT Handler），結(jié)合Chroma溫控技術(shù)Nitro TEC，可支援六站同時進(jìn)行Full Range（- 40°C~125°C）的主動式溫控測試，并且透過專屬的混合制冷機可有效提升測試站升降溫速度，進(jìn)而縮短整體測試時間。

Chroma 3280 測試分類機為所有的SD卡類產(chǎn)品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機 臺的設(shè)計更可節(jié)省機臺于測試廠之占地面積。整合了測試機臺與自動分類機的功 能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計，滿足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類產(chǎn)品的測試需求，不論是在機臺的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測試機臺來的大幅降低，因 此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。

Chroma 3270 微型IC測試分類機是一款創(chuàng)新的微型 IC 測試分類機，特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 （CIS : CMOS Image Sensor） 量產(chǎn)所需，Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù)，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試

Chroma 3260 自動化系統(tǒng)功能測試機是一款新型的測試機可供多組PCB level平行測試的大量生產(chǎn)機具。3260可配合多數(shù)不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP封裝。測試機采用取放的技術(shù)，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray盤。

Chroma 3240 自動化系統(tǒng)功能測試機是一款新型的測試機可供多組PCB level平行測試的大量生產(chǎn)機具。3240可配合多數(shù)不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封裝。測試機采用取放的技術(shù)，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray 盤。測試機可提供90度旋轉(zhuǎn)的需求，以符合各種IC方向性，使各個IC接腳同一方向。

Chroma 3240-Q 無線射頻分類機也可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設(shè)計, 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達(dá)150℃之高溫測試環(huán)境。是一臺創(chuàng)新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。