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簡要描述:Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)在設(shè)計其架構(gòu)時,應(yīng)用先進(jìn) 的規(guī)劃,具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類比測試模組等等選配,以確保 符合未來多年的測試需求。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Chroma/致茂 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,道路/軌道/船舶 |
Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)在設(shè)計其架構(gòu)時,應(yīng)用先進(jìn) 的規(guī)劃,具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類比測試模組等等選配,以確保 符合未來多年的測試需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組,可實(shí)現(xiàn)從 設(shè)計端至量產(chǎn)端使用同一PXI平臺已減少因硬體 不同所造成的測試誤差。它的軟體測試環(huán)境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form),是一個結(jié)合工程開發(fā)與量 產(chǎn)需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控 制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測 試機(jī)臺管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的 設(shè)計,CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具,包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組,可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用于重復(fù)任一測試 參數(shù),包含時序、電壓、電流等,以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)特色:
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